SWIR-在紅外線光譜範圍內具有高精準度
主動式冷卻帶來的益處
由於外殼整合了可通入壓縮空氣或液體的冷卻管，堡盟 (Baumer) CX.XC 相機能提供卓越的影像品質。得益於感測器與鏡頭周圍的有效散熱，能成功避免熱雜訊（Hot Pixel）漂移，確保所採集的影像具備低雜訊、極少缺陷畫素以及高動態範圍的特性。因此，此相機能高效實現高精準度的微米級量測與檢測任務。
憑藉整合式冷卻管設計，這款工業相機更是高溫環境應用的理想解決方案。相機無需額外安裝冷卻組件即可直接使用，進而節省系統整合的時間與成本。
Baumer SWIR帶來的優勢
How RDMA Work / RDMA 如何運作
堡盟 (Baumer) CX.XC 系列 SWIR 工業相機，是一款具備 GigE Vision 千兆乙太網路介面的工業級短波紅外線相機。該系列整合了高靈敏度 Sony SenSWIR InGaAs 感測器，影像採集範圍涵蓋 400–1700 nm 波段的可見光與不可見光。
因此，這款相機為食品、半導體與製藥等對精準度要求極高的產業，開啟了全新的應用領域。
SWIR-相關應用案例
檢測咖啡豆中是否存在人眼幾乎難以辨識的深色異物顆粒（如：小石子）。
圖片來源：索尼半導體解決方案公司 (Sony Semiconductor Solutions Group)
檢測蘋果等水果是否存在肉眼難以察覺的損傷（壓傷）。
圖片來源：索尼半導體解決方案公司 (Sony Semiconductor Solutions Group)
於晶圓生產的定位應用中，偵測肉眼無法辨識的對位特徵（Alignment Marks）。
圖片來源：索尼半導體解決方案公司 (Sony Semiconductor Solutions Group)
SWIR應用領域
應用範例：可靠地偵測並辨識瑕疵（如：壓傷、腐爛等損傷），進而提升品質檢測效率。
應用範例：穿透多層結構進行晶圓的高精準度定位與檢測。
應用範例：偵測並辨識各種包裝（如：玻璃或塑膠容器）中的雜質與成分。
瑕疵畫素校正
Baumer 如何在SWIR應用中盡可能避免瑕疵畫素
由於技術限制，InGaAs 感測器的瑕疵畫素（Defective Pixels）明顯多於一般 CMOS 矽感測器。
如上圖所示： 未經畫素校正的影像（左圖） | 經過靜態與動態瑕疵畫素校正後的影像（右圖）
（Sony IMX990 影像採集波段：1350 nm；環境溫度：感測器典型運作溫度為 35°C）
為什麼要盡可能避免瑕疵畫素？
這對於確保卓越的影像品質以及影像處理系統的穩定運作至關重要。
使用配備 InGaAs 感測器的相機時需要注意什麼？
為了盡可能減少瑕疵畫素，影像感測器必須維持在低溫狀態。
堡盟 (Baumer) 的解決方案
CX.SWIR.XC 相機不僅採用優異的工業級散熱設計，更內建與感測器配套的靜態及動態瑕疵畫素校正功能；此外，還配備了整合式冷卻管，能進一步降低影像感測器的運作溫度。
感測器溫度必須維持在極低狀態，才能顯著減少瑕疵畫素，並保持極低的暗電流（Dark Current）。
超低功耗（12 V 電壓下僅 2.1 W）。
36 x 36 mm 方形外殼。
外殼內嵌專利散熱技術（散熱片），確保高效散熱。
畫素校正功能建議整合於相機韌體（Firmware）中。
瑕疵畫素校正提供「靜態」與「動態」兩種模式可供選擇。
多數瑕疵畫素可透過靜態校正完成。
動態校正則適用於不同設定或環境條件下產生的「瑕疵畫素」。
憑藉整合式冷卻管設計，不僅提升了影像資料的精準度，更進一步縮短了量測週期。
透過降低運作溫度，能進一步減少瑕疵畫素。
有效隔絕熱量傳導至光學元件。
大幅降低畫素漂移（Pixel Drift）。
開機（上電）後即可迅速執行高精準度量測。
體積輕巧，特別適合安裝於狹窄空間。